IEC 60747-5 AMD 2-1995 半导体器件.分立器件和集成电路.第5部分:光电器件.第2次修改
作者:标准资料网 时间:2024-05-06 10:56:10 浏览:8259
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevicesandintegratedcircuits-Part5:Optoelectronicdevices;Amendment2
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件和集成电路.第5部分:光电器件.第2次修改
【标准号】:IEC60747-5AMD2-1995
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1995-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47C
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;分立器件;试验;光电子器件;电气工程;半导体器件;集成电路
【英文主题词】:semiconductordevices;integratedcircuits;electricalengineering;discretedevices;testing;electronicequipmentandcomponents;optoelectronicdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L50
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:17P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件和集成电路.第5部分:光电器件.第2次修改
【标准号】:IEC60747-5AMD2-1995
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1995-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47C
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;分立器件;试验;光电子器件;电气工程;半导体器件;集成电路
【英文主题词】:semiconductordevices;integratedcircuits;electricalengineering;discretedevices;testing;electronicequipmentandcomponents;optoelectronicdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L50
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:17P.;A4
【正文语种】:英语
下载地址: 点击此处下载